电子分析天平：核心技术解析与精准选型指南
电子分析天平：核心技术解析与精准选型指南
一、精密测量原理与技术演进
采用电磁力补偿原理（Electromagnetic Force Compensation），实现0.1μg级测量精度，突破传统机械天平局限：
电磁力传感器系统
- 钕铁硼磁钢（0.8-1.2T）
- 动圈位移控制±0.1μm
- 红外光栅（5nm分辨率）
信号处理单元
- 24位Σ-Δ型ADC
- 数字滤波算法
- ±0.5℃温度补偿
二、关键性能指标体系
| 性能参数 | 技术指标 | 测试标准 |
|---|---|---|
| 重复性误差 | ≤±0.5e | OIML R76 |
| 线性偏离 | ≤±1.5e | USP<41> |
三、选型决策矩阵
重要提示：最小样品量≥120%最小称量值
| 应用场景 | 推荐量程 | 典型精度 |
|---|---|---|
| 药物称量 | 0-120g | 0.01mg |
| 滤膜称重 | 0-50g | 0.001mg |
四、创新应用场景
动态密度测定
集成微量加样器实现自动测量
活体代谢监测
昆虫呼吸代谢连续记录系统
五、使用维护规范
| 维护周期 | 操作项目 | 技术标准 |
|---|---|---|
| 每日 | 三点校准 | E2级标准砝码 |
| 年度 | 计量溯源 | CNAS认证 |
创建时间：2025-04-22 13:41
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